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Metadados

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Evento (Conference Proceedings)
Sitemtc-m21c.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP3W34R/3R3TCJE
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21c/2018/05.07.16.50
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21c/2018/05.07.16.50.01
Última Atualização dos Metadados2020:12.07.21.11.37 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE--PRE/
Chave de CitaçãoBerniPaesGalv:2018:SpLiIn
TítuloSpectroscopy liquid infiltration method for measuring porous silicon properties
Ano2018
Data de Acesso08 maio 2024
Tipo SecundárioPRE CN
2. Contextualização
Autor1 Berni, Luiz Angelo
2 Paes, T. F.
3 Galvão, E. C. S.
Identificador de Curriculo1 8JMKD3MGP5W/3C9JHMN
Grupo1 LABAS-COCTE-INPE-MCTIC-GOV-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Universidade Federal da Bahia (UFBA)
3 Universidade Federal de São Paulo (UNIFESP)
Endereço de e-Mail do Autor1 luiz.berni@inpe.br
Nome do EventoEncontro Nacional de Física da Matéria Condensada (ENFMC)
Localização do EventoFoz do Iguaçu, PR
Data06-11 maio
Histórico (UTC)2018-05-07 16:50:40 :: simone -> administrator :: 2018
2020-12-07 21:11:37 :: administrator -> simone :: 2018
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
ResumoPorous silicon can be formed by electrochemical etching in hydrofluoric acid solution. Due to the large surface area and photoluminescent properties, porous silicon has attracted the interest of several areas, such as, microelectronics, optoelectronics, chemical and biological sensors, batteries, solar cells and biomedical devices. In the laboratory, porous silicon was formed by low resistivity p-type monocrystalline silicon wafers under several conditions of current density, solution concentration and etching time [1]. In order to measure the thickness, refractive index and porosity of the porous silicon layer, it was assembled in the laboratory a system that operates with the spectroscopy liquid infiltration method. This method is non-destructive and fast execution, which enables to measure the properties of the porous layers in few minutes [2]. The method consists in measuring the reflectance of the porous silicon layer immersed in two distinct media, for example, air and alcohol. The analysis of the obtained Fabry-Perot interference spectra allows to estimate the properties of the porous layer. This work presents details of the assembled system and results obtained from several samples. The results obtained with the spectroscopy liquid infiltration method were also compared with the high-resolution scanning electron microscopy data.
ÁreaFISMAT
Arranjourlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Spectroscopy liquid infiltration...
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Conteúdo da Pasta agreement
agreement.html 07/05/2018 13:50 1.0 KiB 
4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Grupo de Usuáriossimone
Grupo de Leitoresadministrator
simone
Visibilidadeshown
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
Acervo Hospedeirourlib.net/www/2017/11.22.19.04
6. Notas
Campos Vaziosarchivingpolicy archivist booktitle callnumber copyholder copyright creatorhistory descriptionlevel dissemination doi e-mailaddress edition editor format isbn issn keywords label lineage mark mirrorrepository nextedition notes numberoffiles numberofvolumes orcid organization pages parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project publisher publisheraddress readpermission rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark serieseditor session shorttitle size sponsor subject targetfile tertiarymark tertiarytype type url versiontype volume
7. Controle da descrição
e-Mail (login)simone
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